FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL® 237

  • Modelo: FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL® 237
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O FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL® 237 é um equipamento de Fluorescência de Raios-X. Este equipamento é adequado para realizar medições de espessuras de revestimentos em diferentes materiais e análises elementar. Pode realizar a análise de até 24 elementos simultaneamente de forma não destrutiva. Esse instrumento é indicado para medições e análises de revestimento extremamente finos de peças produzidas em grande quantidade.

Com a mesa de medição XY programável, torna este instrumento adequado para aplicações automatizadas e monitoramento de produção.

Campos típicos de aplicação:

•  Análise de revestimentos finos ≤ 0,1 μm (0,004 mils).

• Medições de revestimentos em componentes eletrônicos e semicondutores. Exemplo: em estruturas de chumbo, conectores ou placas de circuito impresso.

• Determinação de sistemas complexos de revestimentos múltiplos.

• Medições automatizadas, por exemplo durante processo de controle de qualidade.

• Determinação do teor de chumbo na solda.

• Com a versão SDD: determinação do teor de fósforo em revestimentos de NiP.

Para criar condições ideais para cada medição, os instrumentos apresentam aberturas eletricamente variáveis (Colimador) ​​e filtros primários.

O moderno detector PIN de silicone alcança uma alta precisão e uma boa sensibilidade de detecção.

Para demandas ainda mais altas, o instrumento pode ser equipado com um detector de silício (SDD). Isso resultará em maior resolução para elementos leves.

Excelente precisão e estabilidade a longo prazo são características de todos os FISCHERSCOPE X-RAY. A necessidade de recalibração é consideravelmente reduzida, economizando tempo e esforço.

O parâmetro fundamental do método da FISCHER permite a análise de sólidos e amostras líquidas. Ele também consegue realizar medições sem calibração da camada do revestimento.

 

Especificações Gerais

  • Método de uso - Instrumento de medição por Fluorescência de Raios-X dispersivos em energia (EDXRF) para analisar composição elementar e medição de espessura de revestimentos
  • Design – Instrumento de bancada com tampa de abertura na parte superior do instrumento com mesa de medição XY programável.
  • Direção da medição: Vertical de cima para baixo (Top down)

 

Fontes do Raios-X

  • Tubo de Raios-X: Tubo de Tungstênio com janela de Berílio
  • Voltagem: 10 kV, 30 kV, 50 kV
  • Aberturas (Colimador): Ø 0.1 mm (3.9 mils), Ø  0.3 mm (11.8 mils), Ø 0.6 mm (23.6 mils)
  • Local de medição: Dependendo da distância de medição e da abertura, a medição real do tamanho do ponto é mostrada na imagem do vídeo. Menor ponto de medição - Aproximadamente. Ø 0,15 mm (5,9 mils) com abertura de 0,1 mm (3,9 mils)

Detecção de Raios-X

Versão Detector PIN:

  • Detector de Raios-X: Detector de Silício PIN
  • Resolução (FWHM for Mn-Ka): ≤ 200 eV
  • Range elementar: Enxofre S (16) até Urânio U (92)
  • Distancia de medição: 0 … 80 mm (0 … 3.2 in)

Versão Detector SDD

  • Detector de Raios-X: Detector de Silício SDD
  • Resolução (FWHM for Mn-Ka): ≤ 160 eV
  • Range elementar: Alumínio Al (13) até Urânio U (92)
  • Distancia de medição: 0 … 80 mm (0 … 3.2 in)

Dados elétricos

  • Fonte de energia: AC 115 V ou AC 230 V – 50/60Hz
  • Consumo de energia: Max. 120V – Sem PC
  • Classe de proteção: IP40

 

Dimensões

  • Dimensões externas: Largura x profundidade x altura[mm] - 570 x 760 x 650 mm, [in]: 22 x 30 x 26
  • Dimensões internas: Largura x profundidade x altura[mm] - 460 x 495 x 146 mm, [in]: 18 x 19.5 x 5.7
  • Peso:  115kg

Condições ambientais

  • Temperatura em operação: 10 °C 40 °C / 50 °F 104 °F
  • Temperatura fora de operação: 0 °C 50 °C / 32 °F 122 °F
  • Relação de umidade: 95 %

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